Ключевые слова: HTS, YBCO, films, PLD process, substrate SrTiO3, oxygen, nitrogen gas, fabrication, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, resistivity, temperature dependence, Jc/B curves
Ferdeghini C., Kim J., Jewell M.C., Larbalestier D.C., Li Q., Braccini V., Gurevich A., Vaglio R., Hu Y.F., Cui Y., Xi X.X., Redwing J.M., Rowell J., Moeckly B., Ferrando V., Tarantini C., Marre D., Putti M., Haanappel E., Giencke J.E., Eom C.B., Pogrebnyakov A., Liu B.T., Singh R.K., Gandikota R., Wilkens B., Newman N.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.